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鍍層厚度測(cè)試鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有1.金相法2.庫(kù)侖法3.X-ray方法。各方法適用范圍Scope1.金相法：采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。2.庫(kù)侖法：適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓...

RoHS環(huán)保測(cè)試儀對(duì)地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析；金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴重金屬和各種首飾的含量檢測(cè)；主要應(yīng)用于ROHS指令相關(guān)行業(yè)，貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；電鍍行業(yè)。RoHS環(huán)保測(cè)試儀的優(yōu)點(diǎn)：1、可檢測(cè)ROHS、鹵素、八大重金屬、全元素分析，并且一次性測(cè)試完成，無(wú)需分開(kāi)測(cè)試；2、核心配件均采用進(jìn)口件：制冷Si-Pin探測(cè)器、X射線光管、高壓發(fā)生器等；3、儀器測(cè)試過(guò)程中有無(wú)意開(kāi)蓋保護(hù)功能，開(kāi)蓋自動(dòng)切斷開(kāi)關(guān)，可預(yù)防輻射。4、保證每年對(duì)...

金屬成分分析儀檢驗(yàn)金屬成分的原理：1、把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化（轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子），并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級(jí)躍遷到較低的能級(jí)時(shí)，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過(guò)程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來(lái)實(shí)現(xiàn)。2、把原子所產(chǎn)生的輻射進(jìn)行色散分光，按波長(zhǎng)順序記錄在感光板上，就可呈現(xiàn)出有規(guī)則的光譜線條，即光譜圖。系借助于攝譜儀器的分光和檢測(cè)裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)。3、根據(jù)所得光譜圖進(jìn)行定性鑒定或定量分析。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射...

水泥熒光儀的功能：數(shù)據(jù)處理功能數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：內(nèi)置大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，可存儲(chǔ)大量的采集數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)刪除：數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)后，可用此功能刪除儀器內(nèi)部數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸：將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C，使用流行的USB2.0數(shù)據(jù)傳輸接口設(shè)置功能文件名設(shè)置測(cè)量采集參數(shù)的設(shè)置可快速選取設(shè)置好的不同采集參數(shù)簡(jiǎn)明幫助：用戶可以從儀器屏幕上查看簡(jiǎn)單的使用幫助信息及說(shuō)明自行升級(jí)：用戶可自行方便、安全地對(duì)儀器軟件進(jìn)行升級(jí)和更新水泥熒光儀的應(yīng)用范圍：1、食品加工器具、工作臺(tái)面、餐飲器具等消毒結(jié)果快速檢測(cè)。2、飲用水中微生物快速...

X射線熒光分析的基礎(chǔ)和最重要的儀器性能在過(guò)去，X射線熒光分析（XRF）主要用于地質(zhì)學(xué)。如今，它已成為工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用：它可以檢測(cè)從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質(zhì)的含量，如測(cè)量珠寶中的黃金含量或根據(jù)《有害物質(zhì)限制》（RoHS）指令檢測(cè)日常物品中的有害物質(zhì)。此外，可以使用XRF測(cè)量鍍層的厚度：它快速、環(huán)保且無(wú)損。測(cè)量是如何進(jìn)行的當(dāng)X射線設(shè)備開(kāi)始測(cè)量時(shí)，X射線管會(huì)發(fā)出高能輻射，這也被稱為‘初級(jí)’輻射。當(dāng)這些X射線擊中樣品...